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個人情報の取扱いについて

フィルメトリクス株式会社(以下「弊社」)は、お客様の個人情報を最も重要な情報であると認識しています。 このため、個人情報保護に関する方針を以下の通り定め、法令及びその他の規範を遵守し、適切に個人情報を取り扱います。

 

個人情報の取得

弊社は、お客様からお預かりする個人情報の利用目的を明確化するよう努力し、業務上必要な範囲で、適法かつ公正な手段により個人情報を取得します。

 

個人情報の利用・目的

弊社は、取得した個人情報をあらかじめ定めた利用目的もしくは、それと合理的な関連性のある範囲内で、業務の遂行上必要な限りにおいて利用します。お客様からお預かりした個人情報は、法令に定められている場合を除き、お客様の同意を得ることなく第三者に提供・開示などをする事はありません。

 

個人情報の外部委託

弊社は、個人情報を第三者との間で共同利用、または、個人情報の取り扱いを第三者に委託する場合は、共同利用の相手方及び委託先に対し、適正な調査を実施の上、秘密を保持させるために適切な契約や指導・管理を行います。

 

個人情報の管理

弊社は、お客様からお預かりした個人情報は、適切かつ厳重に管理し、個人情報への不正アクセス・紛失・破壊・改ざんおよび漏洩などを防止するため、適正な情報セキリュティ対策を講じます。

 

個人情報の開示など

弊社は、お客様がご自身の個人情報の開示・変更および削除などを希望される場合には、お申し込み者ご本人様であることを確認の上、法令に従って速やかに対応します。

 

製品情報
Profilm3D 3次元表面形状測定システム
F20 膜厚測定システム
F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム
aRTie 反射・透過・膜厚測定システム
F3-sX 基板厚測定システム
F3-CS 卓上膜厚測定システム
F40 汎用顕微鏡モデル
F40-UVX 紫外・近赤外対応顕微鏡モデル
F50 自動膜厚測定システム
F60 アライメント自動膜厚測定システム
F54 顕微式自動膜厚測定システム
お知らせ一覧
2017年12月13日~15日に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON JAPAN」に出展します。皆様のご来場をおまちしております。
2017年10月31日~11月1日に筑波大学東京キャンパスで開催される「OPJEXPO 2017」(日本光学会附設展示会)に出展します。
2017年9月13日~15日に東京ビッグサイトで開催された「測定計測展」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

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