2017年9月13日~15日に東京ビッグサイトで開催された「測定計測展」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

製品情報
Profilm3D 3次元表面形状測定システム
F20 膜厚測定システム
F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム
F3-sX 基板厚測定システム
F3-CS 卓上膜厚測定システム
F40 汎用顕微鏡モデル
F40-UVX 紫外・近赤外対応顕微鏡モデル
F50 自動膜厚測定システム
F60 アライメント自動膜厚測定システム
F54 顕微式自動膜厚測定システム
お知らせ一覧
表面形状測定例がこちらからご覧頂けるようになりました
2018年12月12日~14日に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2018」に出展致します。皆様のご来場をお待ちしております。 
9月18日~21日に名古屋国際会議場で開催された「第79回応用物理学会学術講演会 展示会 JSAP EXPO AUTUMN 2018」に出展しました。皆様のご来場に感謝…

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