コンバーテック10月号に弊社記事「エレクトロニクス分野における膜厚・段差・表面形状測定」が掲載されました。

以下からダウンロード頂けます。

Filmerics_コンバーテック_16年10月号掲載記事

製品情報
Profilm3D 3次元表面形状測定システム
F20 膜厚測定システム
F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム
F3-sX 基板厚測定システム
F3-CS 卓上膜厚測定システム
F40 汎用顕微鏡モデル
F40-UVX 紫外・近赤外対応顕微鏡モデル
F50 自動膜厚測定システム
F60 アライメント自動膜厚測定システム
F54 顕微式自動膜厚測定システム
お知らせ一覧
2019年3月9日~12日に東京工業大学大岡山キャンパスで開催される「JSAP EXPO Spring 2019 (第66回応用物理学会春季学術講演会)」に出展致します。皆…
1月30日~2月1日に東京ビッグサイトで開催された「コンバーティングテクノロジー総合展~新機能性材料展2019」に出展しました。皆様のご来場に感謝し…
12月12日~14日に東京ビッグサイトで開催された「SEMICON Japan 2018」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。 

Page
top