12月12日~14日に東京ビッグサイトで開催された「SEMICON Japan 2018」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。 

製品情報
Profilm3D 3次元表面形状測定システム
Zeta-20 マルチ共焦点顕微鏡システム
F20 膜厚測定システム
F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム
F3-sX 基板厚測定システム
F3-CS 卓上膜厚測定システム
F40 汎用顕微鏡モデル
F40-UVX 紫外・近赤外対応顕微鏡モデル
F50 自動膜厚測定システム
F60 アライメント自動膜厚測定システム
F54 顕微式自動膜厚測定システム
お知らせ一覧
2021年10月6日~8日に東京ビッグサイトで開催される「測定計測展」に出展致します。皆様のご来場をお待ちしております。
新型コロナウイルス感染症に関する緊急事態宣言への対応について
2021年6月30日~7月2日にパシフィコ横浜で開催された「OPIE’21」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

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