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4月24日～26日にパシフィコ横浜で開催された「OPIE ’19 (ポジショニングEXPO)」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

展示会情報2019年04月27日
製品情報
Profilm3D 3次元表面形状測定システム
Zeta-20 マルチ共焦点顕微鏡システム
F20 膜厚測定システム
F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム
F3-sX 基板厚測定システム
F3-CS 卓上膜厚測定システム
F40 汎用顕微鏡モデル
F40-UVX 紫外･近赤外対応顕微鏡モデル
F50 自動膜厚測定システム
F60 アライメント自動膜厚測定システム
F54 顕微式自動膜厚測定システム
お知らせ一覧
2021年01月12日その他
新型コロナウイルス感染症に関する緊急事態宣言への対応について
2020年12月25日展示会情報
2021年2月17日～19日に東京ビッグサイト（青海展示棟）で開催される「JIMA2021 第10回総合検査機器展」に出展致します。皆様のご来場をお待ちしてお…
2020年12月19日展示会情報
12月9日～11日に東京ビッグサイトで開催された「nano tech 2021」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

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