4月24日~26日にパシフィコ横浜で開催された「OPIE ’19 (ポジショニングEXPO)」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

製品情報
Profilm3D 3次元表面形状測定システム
Zeta-20 マルチ共焦点顕微鏡システム
F20 膜厚測定システム
F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム
F3-sX 基板厚測定システム
F3-CS 卓上膜厚測定システム
F40 汎用顕微鏡モデル
F40-UVX 紫外・近赤外対応顕微鏡モデル
F50 自動膜厚測定システム
F60 アライメント自動膜厚測定システム
F54 顕微式自動膜厚測定システム
お知らせ一覧
2020年3月12日~15日に上智大学(四谷キャンパス)で開催される「第67回 応用物理学会春季学術講演会 展示会」に出展します。皆様のご来場をお待ちして…
2020年1月29日~31日に東京ビッグサイトで開催された「nano tech 2020 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議」に出展しました。皆様のご来場に感謝…
2019年12月11日~13日に東京ビッグサイトで開催されたセミコンジャパン2019に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

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