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4月24日～26日にパシフィコ横浜で開催された「OPIE ’19 (ポジショニングEXPO)」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

展示会情報2019年04月27日

製品情報: Profilm3D 3次元表面形状測定システム; F20 膜厚測定システム; F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム; F3-sX 基板厚測定システム; F3-CS 卓上膜厚測定システム; F40 汎用顕微鏡モデル; F40-UVX 紫外･近赤外対応顕微鏡モデル; F50 自動膜厚測定システム; F60 アライメント自動膜厚測定システム; F54 顕微式自動膜厚測定システム

お知らせ一覧: 2019年07月16日展示会情報
2019年9月24日～27日に神戸大学（神戸ポートアイランド）で開催されるSemiconNano2019の展示会に出展致します。; 2019年05月27日展示会情報
2019年9月11日～13日に東京ビッグサイトで開催される「測定計測展」に出展致します。皆様のご来場をお待ちしております。; 2019年05月25日展示会情報
5月22日～24日にパシフィコ横浜で開催された「人とくるまのテクノロジー展2019 横浜」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。