3次元表面形状測定システム一覧へ
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Profilm3D 3次元表面形状測定システム
コンパクトながら、三次元形状の測定に必要な機能を網羅し、低価格を実現しています。ミクロンオーダーの段差や形状の高精度測定に最適な垂直走査干渉法(WLI)と、ナノオーダーの形状測定、粗さの測定に最適な位相シフト干渉法(PSI)の両測定モードの他、自動ステージ、容易なオペレーションと測定データの解析や管理を行うソフトウェアなどすべて標準装備されています。 詳細はこちら
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Zeta-20 マルチ共焦点顕微鏡システム
独自のZDot™テクノロジーにより、時間のかかる従来の共焦点顕微鏡の走査測定から解放され、1回のスキャンで3次元形状の測定を可能にしました。 詳細はこちら