aRTie 反射・透過・膜厚測定システム

aRTie(アーティ) 反射・透過・膜厚測定システム

aRTie(アーティ)は、測定ユニットと測定ステージが一体化したコンパクトな卓上測定システムです。 反射率・透過率を同時に測定し、膜厚、屈折率及び消衰係数を簡単に解析することができます。

USBケーブルだけの簡単接続、分光器の自動波長校正機能など新たに追加された機能により煩わしい設定は省略され、驚くほど簡単にセットアップできます。

主な特徴

  • 測定ユニットと測定ステージが一体化したコンパクトな卓上測定システム
  • 反射率・透過率を同時に測定し、膜厚、屈折率及び消衰係数を簡単に解析
  • 新たに追加された機能により驚くほど簡単にセットアップ

主な用途

フラットパネル PETやガラス基板上のポリイミド、ITO、ARフィルム、各種光学フィルム
光学コーティング ガラス、メガネ、レンズ等のハードコート
薄膜太陽電池 CdTe、CIGS、アモルファスシリコンなど

製品ラインナップ

モデル aRTie-F2-RT-UV aRTie-F2-RT
測定波長範囲 190 – 1100nm 380 – 1050nm
測定対象 反射・透過・吸収 反射・透過・吸収
オプション 膜厚、光学定数 膜厚、光学定数

測定例

有機ELパネルで使用される有機材料の膜厚、屈折率の測定例
反射率と透過率を同時に測定。膜厚解析FILMeasureソフトウエアは、膜厚、屈折率などを瞬時に解析します。

製品情報
Profilm3D 3次元表面形状測定システム
F20 膜厚測定システム
F10-RT 反射・透過・膜厚測定システム
aRTie 反射・透過・膜厚測定システム
F3-sX 基板厚測定システム
F3-CS 卓上膜厚測定システム
F40 汎用顕微鏡モデル
F40-UVX 紫外・近赤外対応顕微鏡モデル
F50 自動膜厚測定システム
F60 アライメント自動膜厚測定システム
F54 顕微式自動膜厚測定システム
お知らせ一覧
2017年12月13日~15日に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON JAPAN」に出展します。皆様のご来場をおまちしております。
2017年10月31日~11月1日に筑波大学東京キャンパスで開催される「OPJEXPO 2017」(日本光学会附設展示会)に出展します。
2017年9月13日~15日に東京ビッグサイトで開催された「測定計測展」に出展しました。皆様のご来場に感謝します。

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